13Е062ПСМТ - Практикум из савремених материјала и технологија
Спецификација предмета | ||||
---|---|---|---|---|
Назив | Практикум из савремених материјала и технологија | |||
Акроним | 13Е062ПСМТ | |||
Студијски програм | Електротехника и рачунарство | |||
Модул | ||||
Тип студија | основне академске студије | |||
Наставник (предавач) | ||||
Наставник/сарадник (вежбе) | ||||
Наставник/сарадник (ДОН) | ||||
Број ЕСПБ | 3.0 | Статус предмета | изборни | |
Условљност другим предметима | ||||
Циљеви изучавања предмета | Упознавање са новим генерацијама материјала, технолошким процесима њихове израде и инжењерингом њихових електричних, магнетних, оптичких, термичких и механичких особина, кроз практичан рад у више научно-истраживачких лабораторија, уз теоријско обрађивање физичких основа особина материјала и технолошких поступака. | |||
Исходи учења (стечена знања) | Практично овладавање и напредан ниво упознатости са одабраним методама синтезе и карактеризације материјала. Висок степен упућености студената у актуелне материјале и технологије, који се већ примењују у комерцијално доступним електричним и електронским компонентама или су у жижи научно-истраживачког рада. | |||
Садржај предмета | ||||
Линк ка страници предмета | https://teams.microsoft.com/l/team/19%3a8qpuz7xxZ0Up9zn9WDlsIziMTCpEeV4PfoGEn7jKVdk1%40thread.tacv2/conversations?groupId=c3c1148f-eb27-4db0-9185-f2874bd94dea&tenantId=1774ef2e-9c62-478a-8d3a-fd2a495547ba | |||
Садржај теоријске наставе | Атомске и молекулске орбитале. Фазни дијаграми. Планарне технологије. Површинска енергија. Графен. Фотонски кристали. Наночестице. Вибрациона спектроскопија. Скенирајући електронски микроскоп (SEM). Микроскоп атомских сила (AFM). Фотоелектронска спектроскопија X зрацима (XPS). Спектроскопска елипсометрија. Магнето-оптички Керов ефекат. SQUID магнетометар. Рендгенска дифрактометрија. | |||
Садржај практичне наставе | На лабораториским вежбама изводе се: синтеза графена, синтеза наночестица, демонстрација више планарних метода (литографија, спатеровање, VLS ...), карактеризација узорака AFM-ом, Рамановим спектроскопом, SEM-ом, XPS-ом и Керовим микроскопом, мерење површинске енергије методом капљице, мерење магнетне сусцептибилности SQUID-ом, рендгенска структурна анализа, FTIR спектроскопија фотонског кристала. | |||
Литература | ||||
| ||||
Број часова активне наставе недељно током семестра/триместра/године | ||||
Предавања | Вежбе | ДОН | Студијски и истраживачки рад | Остали часови |
1 | 1.5 | |||
Методе извођења наставе | Лабораторијске вежбе изводе се у научно-истраживачким институцијама: Институту за нуклеарне науке "Винча", Институту за физику у Београду, Институту за хемију, технологију и металургију и Институту техничких наука САНУ. На часовима предавања обрађују се теоријске физичке основе тема заступљених у оквиру практичне наставе. | |||
Оцена знања (максимални број поена 100) | ||||
Предиспитне обавезе | Поена | Завршни испит | Поена | |
Активности у току предавања | Писмени испит | 30 | ||
Практична настава | 70 | Усмени испит | ||
Пројекти | ||||
Колоквијуми | ||||
Семинари |